Regensburg 2002 – scientific programme
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HL: Halbleiterphysik
HL 11: Poster 1
HL 11.80: Poster
Monday, March 11, 2002, 17:00–19:30, Poster A
Photoscanning Messsystem zur berührungslosen Bestimmung fabrikationsbedingter Defekte in Solarzellen — •Denny Ragusch1, Ilia Novikov2, Dietmar Drung2, Klaus-Peter Franke2 und Thomas Schurig2 — 1Technische Fachhochschule Wildau, Bahnhofstr. 15745 Wildau, P99 — 2Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestr. 2-12, 10587 Berlin
Ein Messsystem zur nichtinvasiven Charakterisierung fabrikationsbedingter Defekte in Solarzellen, wie Kontaktierungsfehler und Kurzschlüsse, wird vorgestellt. Die Frontseite der zu untersuchenden Solarzelle wird mittels eines fokussierten Laserstrahls abgetastet, wobei dieser mit einer Frequenz von 1 kHz amplitudenmoduliert ist. Die von den angeregten Photoströmen verursachten magnetischen Felder (einige 100 pT) werden von einer Induktionsspule detektiert, die an der Rückseite der Solarzelle über dem Ort der optischen Anregung plaziert ist. Die Ausgangsspannung der Spule wird frequenzselektiv und phasenempfindlich gemessen. Um diese schwachen Felder detektieren zu können wurde ein hochempfindlicher ac-Vorverstärker mit einem Eingansspannungsrauschen von 140 pV/√Hz entwickelt. Das Verfahren bietet gegenüber herkömmlichen Methoden den Vorteil, dass es berührungslos arbeitet und damit keine elektrischen Kontakte benötigt. Der Versuchsaufbau sowie die ersten Messungen werden vorgestellt.
Gefördert vom BMBF unter Vorhabensnummer 13N7501.