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HL: Halbleiterphysik
HL 33: SiC
HL 33.2: Talk
Thursday, March 14, 2002, 10:45–11:00, H15
Aktivierung implantierter Phosphor-Ionen in (0001)-/(11-20)-orientierten 4H-SiC Wafern — •F. Schmid1, M. Laube1, G. Pensl1, G. Wagner2 und M. Maier3 — 1Lehrstuhl für Angewandte Physik, Universität Erlangen-Nürnberg — 2Institut für Kristallzüchtung, Berlin — 3Fraunhofer Institut Angewandte Festkörperphysik, Freiburg
Durch vergleichende Hall-Effekt Messungen an Phosphor (P)-implantierten, (0001)- (Si-Fläche) bzw (11-20)-orientierten (a-Fläche) p-Typ 4H-SiC Epischichten wurde die Bildung von P-Donatoren für Ausheiltemperaturen im Bereich von 1500∘C bis 1700∘C untersucht. Durch Mehrfachimplantation wurden 2 Probenserien mit unterschiedlicher P-Konzentration hergestellt (Profil P1: [P]=2·1018 cm−3, Profil P2: [P]=2.4·1020 cm−3). Es zeigt sich, dass die elektrische Aktivierung implantierter P-Ionen unabhängig von der Orientierung der Epischichten ist. Das Verhältnis der Hall-Beweglichkeit µe(a-Fläche)/µe(Si-Fläche) ist gleich 1,2 bei T=RT und gleich 8:1 bei T=100K. Als Ursache hierfür wird die Anisotropie der Beweglichkeit senkrecht und parallel zur c-Achse und die unterschiedliche Konzentration Implantations-induzierter, Akzeptor-ähnlicher Defektzentren angesehen, die bei tiefen Temperaturen ionisiert sind und als Streuzentren die Elektronenbeweglichkeit bestimmen.