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HL: Halbleiterphysik

HL 4: Photonische Kristalle

HL 4.2: Vortrag

Montag, 11. März 2002, 10:45–11:00, H15

Phasensensitive Reflexionsmessungen an höheren Bändern in zweidimensionalen siliziumbasierten Photonischen Kristallen — •W. Koch¹, N. Ruchaud¹, G. von Freymann¹, M. Wegener¹, K. Busch², J. Schilling³, R. Wehrspohn³ und U. Gösele³ — ¹Institut für Angewandte Physik, Universität Karlsruhe (TH), 76128 Karlsruhe — ²Institut für Theorie der kondensierten Materie, Universität Karlsruhe (TH), 76128 Karlsruhe — ³Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik, Weinberg 2, 06120 Halle

Die simultane Messung von Realteil und Imaginärteil des Feldreflexionskoeffizienten erlaubt im Prinzip die Bestimmung der Bandstruktur eines Photonischen Kristalls. Wir realisieren dies durch Einbringen des Photonischen Kristalls in einen Arm eines ausbalancierten Michelson-Interferometers. Aus den so gewonnenen Interferogrammen bestimmen wir Betrag und Phase des Reflexionskoeffizienten. Erste Messungen haben wir an silizium-basierten Strukturen mit einem Porenabstand von 1.5 Mikrometer im Spektralbereich zwischen ein und zwei Mikrometer Wellenlänge des Lichts durchgeführt. Wir finden in der Phase des Reflexionskoeffizienten charakteristische „Sprünge“ die wir mit den Bandextrema in Verbindung bringen. Modellrechnungen erlauben weiterhin Rückschlüsse auf Unordnung und den Einfluss der Oberfläche.