HL 42: Pr
äparation/Charakterisierung
Freitag, 15. März 2002, 11:00–12:15, H13
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11:00 |
HL 42.1 |
Identifikation des Ga-Antisite-Defektes GaAs in GaAs durch radioaktive Elementumwandlung des Isotopes 71As — •F. Albrecht, G. Pasold, J. Grillenberger, N. Achtziger, M. Dietrich, W. Witthuhn und die ISOLDE Collaboration
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11:15 |
HL 42.2 |
Identifikation Erbiumkorrelierter Störstellen in SiC — •G. Pasold, F. Albrecht, J. Grillenberger, C. Hülsen, U. Großner, R. Sielemann und W. Witthuhn
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11:30 |
HL 42.3 |
Investigation of stress in multicrystaline silicon materials by means of Raman spectroscopy — •Simona Kouteva-Arguirova, Winfried Seifert, Martin Kittler, and Jürgen Reif
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11:45 |
HL 42.4 |
Magneto-optische Ferninfrarot-Spektralellipsometrie: Bestimmung freier Ladungsträger Parameter in Halbleiterheterostrukturen — •Tino Hofmann, Mathias Schubert und Craig Herzinger
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12:00 |
HL 42.5 |
Holographische Abbildung von Korngrenzen in Silizium in der Transmissionselektronenmikroskopie — •L. Houben, M. Luysberg und T. Brammer
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