HL 45: Grenz- und Oberfl
ächen
Friday, March 15, 2002, 12:00–13:45, H17
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12:00 |
HL 45.1 |
Einfluß akustischer Oberflächenwellen auf die Dissipation in nanomechanischen Resonatoren — •Florian W. Beil, Robert H. Blick und Achim Wixforth
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12:15 |
HL 45.2 |
Rastertunnelmikroskopie an epitaktisch gewachsenen Dy-Siliziden auf Si(111) — •I. Engelhardt, S.K. Becker, C. Preinesberger und M. Dähne
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12:30 |
HL 45.3 |
Photoelektronenspektroskopieuntersuchung von Siliziumkontakten mit niedriger Schottky-Barriere basierend auf DySi2-Monolagen — •M. Wanke, S. Vandré, T. Kalka, C. Preinesberger, S.K. Becker, W. Busse und M. Dähne
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12:45 |
HL 45.4 |
Detektion von Grenzflächen- und Oxidzuständen in der Si-SiO2-Übergangsregion mittels Kapazitäts-Transientenspektroskopie — •Reinhard Beyer
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13:00 |
HL 45.5 |
Optische Spektroskopie an BeTe(100) Oberflächenrekonstruktionen — •J.W. Wagner, V. Wagner, J. Geurts, P. Vogt, N. Esser und W. Richter
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13:15 |
HL 45.6 |
In situ- und UHV-Untersuchung von MOCVD-präparierten GaSb(100)-Oberflächen — •Zadig Kollonitsch, Kristof Möller, Thomas Hannappel und Frank Willig
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13:30 |
HL 45.7 |
Elektrische Eigenschaften gebondeter Siliziumgrenzflächen — •Alexander Reznicek, Stephan Senz, Otwin Breitenstein, Roland Scholz und Ulrich Gösele
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