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Regensburg 2002 – scientific programme

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M: Metallphysik

M 17: Diffusion und Punktdefekte II

M 17.1: Fachvortrag

Wednesday, March 13, 2002, 17:00–17:15, H6

On-beamline–in-situ-Verfahren zur Messung der Diffusivität kurzlebiger Radioisotope in Festkörpern — •Werner Frank1,2, Thilo Voss2, Andreas Strohm2, Stefan Matics2 und Peter Scharwaechter21MPI für Metallforschung, Stuttgart — 2ITAP, Universität Stuttgart

Die Anwendbarkeit des konventionellen Radiotracer-Verfahrens zur Messung von Diffusionskoeffizienten in Festkörpern ist auf Radiotracer-Atome mit Halbwertszeiten t1/2 von mindestens etwa einem Tag beschränkt. Wir haben eine Apparatur entwickelt, in der kurzlebige Radioisotope (10 min < t1/2 < 1 d) in Festkörpern implantiert und – on beamline und in situ – die Proben diffusionsgetempert und mittels Ionenstrahlabtragung zur Messung der Radiotracer-Profile schichtweise abgetragen werden können. Auf diese Weise sind Diffusionskoeffizienten >10−19 m2s−1 messbar. Als Beispiele werden Diffusionsmessungen von 31Si (t1/2=2,6 h) und 11C (t1/2=20,4 min) in Halbleitern und Keramiken vorgestellt, welche an ISOLDE am CERN in Genf (Schweiz) und an IGISOL an der Universität Jyväskylä (Finnland) durchgeführt worden sind.

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