Regensburg 2002 – scientific programme

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M: Metallphysik

M 28: Wachstum

M 28.2: Fachvortrag

Friday, March 15, 2002, 11:45–12:00, H8

Tomographische Charakterisierung und quantitative Bestimmung der Korngrößenkorrelationen in polykristallinem Al-Sn — •K. M. Döbrich¹, C. E. Krill¹, D. Michels¹, A. Michels¹, C. Rau² und R. Birringer¹ — ¹FR 7.3 Technische Physik, Universität des Saarlandes, Postfach 151150, Geb. 43B, D-66041 Saarbrücken — ²ESRF, BP 220, F-38043 Grenoble Cedex, France

Das Anlassen polykristalliner Gefüge geht in der Regel einher mit Kornwachstum. Die resultierende Mikrostruktur spiegelt eine Korngrößenkorrelation wider, derart, daß große Körner tendenziell von kleinen umgeben sind und kleine Körner von großen. Die vorliegenden Modelle des Kornwachstums vernachlässigen diese Korrelation, erst in den neuesten Theorien werden solche Effekte in Form einer empirischen, aber bisher unbekannten Korrelationsfunktion berücksichtigt. Weil das Studium von Korngrößenkorrelationen mittels konventioneller Charakterisierungsmethoden extrem aufwendig ist, konnten bisher solche Korrelationen nur an durch Computersimulationen erzeugten Mikrostrukturen bestimmt werden. Mit der hochauflösenden Röntgenabsorptionstomographie ist es heutzutage jedoch möglich, die Topographie eines entsprechend dekorierten Korngrenzennetzwerks abzubilden. Untersuchungen an polykristallinem Al mit bis zu 3 at.% Sn zeigen, daß die Sn Dekoration der Korngrenzen nicht uniform ist. Die Vervollständigung der nicht mit Sn benetzten Flächensegmente durch Anwendung einer 3D-Phase-Field-Computersimulation war Voraussetzung für die Ermittlung experimenteller Werte für die o.g. Korrelationsfunktion.