Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

MA: Magnetismus

MA 1: Mikro- und nanostrukturierte Materialien

MA 1.7: Vortrag

Montag, 11. März 2002, 11:15–11:30, H10

Einfluß struktureller Randdefekte auf die Magnetisierungsumkehr in magnetischen sub-mikrometer Tunnelelementen — •Dirk Meyners, Hubert Brückl und Günter Reiss — Universität Bielefeld, Fakultät für Physik, Universitätsstraße 25, D-33615 Bielefeld

Die Domänenkonfiguration von sub-µ Tunnelelementen wurde mittels magnetischer Kraftmikroskopie (AFM/MFM) in Kombination mit mikromagnetischen Simulationsrechnungen untersucht. Bei letzteren ist die mit dem AFM gemessene Topographie inklusive elementspezifischer Randdefekte als Maske für den magnetischen Körper verwendet worden.

Die Tunnelelemente wurden in verschiedenen Formen und Größen durch Elektronenstrahllithographie realisiert (360nm x 650nm und 700nm x 1400nm Rechtecke, 500nm x 840nm Ellipsen). Das Schichtsystem der Elemente besteht aus CoFe1.5/ Ru0.9/ CoFe2.2/ Al₂O₃1.5/ Ni₈₁Fe₁₉6 (in nm). An verschiedenen Stellen der Magnetisierungskurve (minor loop) wurden MFM-Aufnahmen von den strukturierten NiFe-Elektroden gemacht. N- und U-förmige Magnetisierungszustände, Vortexkonfigurationen, 180^o-Néelwände sowie Verschiebungen der Schaltfelder durch Orange-Peel- und Dipolarfeldkopplung konnten beobachtet werden.

Die Simulationen (OOMMF, USA) zeigen, daß die Elementränder signifikanten Einfluß auf die Nukleation und Position von Domänenwänden und Wirbeln sowie deren Stabilität haben. Dadurch wird klar gezeigt, daß bei sub-µ Elementen die Ränder maßgeblich für elementspezifisches Schaltverhalten sind.