Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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MA: Magnetismus

MA 10: Poster : Dünne Schichten(1-21),Spinabh.Transp.(22-39),Exch.Bias(40-51),Spindyn.(52-55),Mikromag.(56-66),Partikel(67-74),Abb.Verf.(75-77),Oberfl.+Spinelektr.+Elektr.Theo+Mikromag(75-87),PÜ+Aniso+Werkst/Leg.(88-103),Mol.Mag.+N-dim+Messm.+Postdead(104-111

MA 10.12: Poster

Dienstag, 12. März 2002, 15:00–19:00, Bereich A

Bestimmung von Pt-Magnetisierungsprofilen in dünnen Filmen unter Verwendung resonanter magnetischer Reflektometrie — •Jochen Geissler, Eberhard Goering, Frank Weigand, Dagmar Goll und Gisela Schütz — Max-Planck-Institut für Metallforschung, 70569 Stuttgart

Schichtsysteme, bestehend aus magnetischen und nichtmagnetischen Komponenten, erwecken stetig steigendes Interesse sowohl wegen fundamentaler physikalischer Aspekte als auch hinsichtlich technischer Anwendungen als GMR- und TMR-Systeme oder MRAMs. Das magnetische Schaltverhalten dieser Systeme hängt hierbei empfindlich von Parametern wie Grenzflä chenrauhigkeiten und Schichtdicken ab. Dadurch ist es von besonderem Interesse, den Magnetisierungsverlauf in den einzelnen Schichten bei Ä nderung dieser Parameter zu kennen. Mit Hilfe der resonanten magnetischen R öntgenreflektometrie ist es möglich, magnetisch sensitiv und elementselektiv Magnetisierungsprofile in ausgewählten Schichten zu bestimmen. Dies soll am Beispiel von Pt/Co- Einfach-und Vielfachschichten gezeigt werden, wo der Magnetisierungsverlauf im Pt bestimmt wurde.