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MA: Magnetismus

MA 10: Poster : Dünne Schichten(1-21),Spinabh.Transp.(22-39),Exch.Bias(40-51),Spindyn.(52-55),Mikromag.(56-66),Partikel(67-74),Abb.Verf.(75-77),Oberfl.+Spinelektr.+Elektr.Theo+Mikromag(75-87),PÜ+Aniso+Werkst/Leg.(88-103),Mol.Mag.+N-dim+Messm.+Postdead(104-111

MA 10.30: Poster

Dienstag, 12. März 2002, 15:00–19:00, Bereich A

Bestimmung von Spindiffusionslängen in mikrostrukturierten Schichtsystemen — •N. Wiese, K. Rott, J. Schmalhorst, A. Thomas, H. Brückl und G. Reiss — Universität Bielefeld, Fakultät für Physik D2, Universitätsstr. 25, 33615 Bielefeld

Die Kenntnis von Spindiffusionslängen in metallischen Systemen ist für das Verständnis vieler Anwendungen, die auf spinpolarisierten Strömen basieren, von großer Bedeutung (z.B. MRAM’s und GMR-Sensoren).

Es wird gezeigt, wie man durch elektronenlithographische Strukturierung eines metallischen Schichtsystems aus 50nm Cu, 5nm NiFe und 10nm Cu ein geeignetes System aus zwei lateralen Spinfiltern mit unterschiedlichem magnetischen Schaltverhalten aufbaut. Durch Untersuchungen an solchen Proben in einem Temperaturbereich von 10K bis 300K können die Spindiffusionslängen in Kupfer bestimmt werden. Durch Messungen des magneto-optischen Kerr-Effektes wird das magnetische Schaltverhalten der NiFe-Elektroden und der geometrische Einfluß bestimmt.