Regensburg 2002 – scientific programme

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MA: Magnetismus

MA 10: Poster : Dünne Schichten(1-21),Spinabh.Transp.(22-39),Exch.Bias(40-51),Spindyn.(52-55),Mikromag.(56-66),Partikel(67-74),Abb.Verf.(75-77),Oberfl.+Spinelektr.+Elektr.Theo+Mikromag(75-87),PÜ+Aniso+Werkst/Leg.(88-103),Mol.Mag.+N-dim+Messm.+Postdead(104-111

MA 10.76: Poster

Tuesday, March 12, 2002, 15:00–19:00, Bereich A

Das Picosekunden-Photoelektronenmikroskop - erste Ergebnisse — •A. Krasyuk¹, A. Oelsner¹, M. Klais¹, C. M. Schneider² und G. Schönhense¹ — ¹Institut für Physik, Johannes Gutenberg-Universität Mainz — ²Institut für Werkstofforschung, Dresden

Photoemissionselektronenmikroskopie (PEEM) ist als leistungsfähiges Werkzeug zur ortsaufgelösten Charakterisierung der chemischen und magnetischen Eigenschaften an Festkörperoberflächen bekannt. Beide Aufgaben können heute mittels Synchrotronstrahlung erfüllt werden, wobei eine Ortsauflösung unter 50nm erreicht werden kann. Das vorgestellte Instrument Picosekunden-PEEM erlaubt darüber hinaus dynamische Untersuchungen im Sub-Nanosekundenbereich unter Ausnutzung der Zeitstruktur der Synchrotronstrahlung (Single Bunch Mode). Das wird durch den Einsatz von Delaylinedetektoren [1] möglich, die zusätzlich zur parallelen 2D-Abbildung des PEEM noch die Zeitmessung aller den Detektor erreichenden Elektronen gestatten. Unter Nutzung der Synchrotronstrahlung von BESSYII konnte erstmals gezeigt werden, daß eine Zeitauflösung besser als 200ps möglich ist. Die Zeitdiskriminierung der Abbildung in der Größenordnung von 200ps läßt sich ausnutzen, um die Ortsauflösung auch im Synchrotronexperiment in den Bereich der PEEM-Grenzauflösung von etwa 20nm zu bringen. Erstmals konnten mit dieser Technik dynamische Abbildungen an magnetischen Schaltvorgängen kleiner ferromagnetischer Teilchen beobachtet werden.(gefördert durch BMBF 05KS1UM1/5)

[1] A.Oelsner et al., Rev. Sci. Instrum. 72 (2001) 3968