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MA: Magnetismus

MA 4: Abbildungsverfahren

MA 4.3: Vortrag

Montag, 11. März 2002, 15:45–16:00, H10

Entwicklung hochauflösender und nichtdestruktiver MFM-Sonden — •A. N. Müller¹, M.R. Koblischka¹, U. Hartmann¹ und T. Sulzbach² — ¹Fachrichtung Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, 66041 Saarbrücken — ²Nanosensors, 35578 Wetzlar

Magnetische Kraftmikroskopie als Standardmethode zur Untersuchung mikromagnetischer Domänenstrukturen bedarf für höchste Auflösung geeigneter Sonden. Dabei wird einmal bestmögliche Auflösung mit geeigneten Sonden durch Abbildung möglichst kleiner hartmagnetischer Domänenstrukturen verifiziert. Zum anderen wird die Destruktionsfreiheit auf weichmagnetischen Proben gefordert. Folgende Ansätze, abweichend von Standardmethoden, wurden gewählt:

1. Kontaminationsspitzen, um den direkten magnetischen Kontakt zwischen Probe und Sonde zu vermeiden.
2. Entmagnetisierte Sonden zur Streufeldreduktion und damit Zerstörungsfreiheit.
3. Eine Kombination der zuvor genannten, die eine Auflösung bei Destruktionsfreiheit auf einer geeigneten Probe von ungefähr 30 nm erreicht.
4. Eine scharfe und nur von einer Seite besputterte Spitze, die über ein Eindomänenteilchen am Spitzenapex verfügt.