Regensburg 2002 – scientific programme
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O: Oberflächenphysik
O 12: Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen
O 12.1: Talk
Monday, March 11, 2002, 15:15–15:30, H45
Standard und Kalibrierung in atomar aufgelöster Kraftmikroskopie auf Isolatoren — •Sebastian Gritschneder1, Clemens Barth1, Lutz Tröger1, Adam Foster2, Alex Shluger3 und Michael Reichling1 — 1Department Chemie, Universität München, Butenandtstraße 5-13. 81377 München, Deutschland — 2Laboratory of Physics, Helsinki University of Technoloy, PO Box 1100, 02015 HUT, Finland — 3Department of Physics and Astronomy, University College London, Gower Street, London WC1E 6BT, UK
Die besondere Schwierigkeit in der Interpretation experimenteller Daten in der dynamischen Rasterkraftmikroskopie liegt darin begründet, dass es nicht möglich ist, a priori Aussagen über die Struktur der Spitze zu machen. Weder die exakte chemische Natur des kontrastgebenden Clusters an ihrem Ende, noch seine atomare Struktur kann genau bestimmt werden. Seit kurzem kann allerdings der Abbildungsprozeß auf der CaF2 (111)-Oberfläche durch theoretische Simulationen nachvollzogen werden. Basierend auf atomistischen Simulationen erlauben diese Rechnungen eine eindeutige Identifizierung von Untergittern dieser Oberfläche und lassen Rückschlüsse auf die Form und Symmetrie der Spitze zu. Die einfach zu präparierende CaF2 (111)-Oberfläche kann damit als Standard zur Kalibrierung von Spitzen dienen. Wir zeigen atomar aufgelöste Aufnahmen der CaC03 (1014) Oberfläche, welche unmittelbar nach einer Kalibrierung der Spitze auf CaF2 (111) gewonnen wurden.