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O: Oberflächenphysik

O 26: Postersitzung (Rastersondentechniken, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Methodisches, Oxide und Isolatoren, Grenzfl
äche fest-flüssig, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Oberfl
ächenreaktionen, Zeitaufg. Spektroskopie, Phasenüberg
änge

O 26.17: Poster

Mittwoch, 13. März 2002, 14:30–17:30, Bereich C

Echtzeitauswertung periodischer AFM Kraft-Distanz-Kurven: Digitaler Pulsed Force Mode — •Peter Spizig^1,2, Detlef Sanchen¹, Andrea Jauß¹, Joachim Koenen¹ und Othmar Marti² — ¹WITec GmbH, Hörvelsingerweg 6, 89081 Ulm, www.WITec.de — ²Universität Ulm, Experimentelle Physik, 89081 Ulm

Die Aufnahme von Kraft-Distanz-Kurven liefert eine Vielzahl interessanter für das Probensystem charakteristischer Parameter. Nachteilig an der Methode ist jedoch der extrem hohe Zeitbedarf für Messung und Auswertung und die dadurch fehlende Statistik. Dies schließt jeden praktischen Einsatz über einige einzelne Kraft-Distanz-Kurven hinaus aus. Um dennoch mit hoher Geschwindigkeit auch abbildend Probenoberflächen charakterisieren zu können, wurde der digitale Pulsed Force Mode entwickelt. Dieser erlaubt eine vollautomatisierte Auswertung aller in Kraft-Distanz-Kurven enthaltener Parameter in typischen Scanraten.
Somit wird es erstmals möglich, Materialunterschiede in der Probe auf physikalische Oberflächenparameter der verschiedenen Materialien wie z.B. lokale Steifigkeit, Adhäsion, Kontaktzeit, Energieeintrag und Viskosität zurückzuführen.
Die Gewinnung der Oberflächenparameter erfolgt dabei parallel zur Topographieabtastung und kann alle in periodischen Kraft-Distanz-Kurven enthaltenen Größen umfassen, so daß am Ende einer Messung eine Vielzahl verschiedener Graphen der Probenoberfläche entstehen.
Neben der Meßmethode werden Untersuchungen an Polyvinylalkohol auf Glimmer und PMMA/PS auf Glas vorgestellt.