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O: Oberflächenphysik

O 26: Postersitzung (Rastersondentechniken, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Methodisches, Oxide und Isolatoren, Grenzfl
äche fest-flüssig, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Oberfl
ächenreaktionen, Zeitaufg. Spektroskopie, Phasenüberg
änge

O 26.34: Poster

Mittwoch, 13. März 2002, 14:30–17:30, Bereich C

Entwicklung eines abbildenden SFG Mikroskops für Reflexionsgeometrie — •K. Kuhnke, D.M.P. Hoffmann und K. Kern — Max-Planck-Institut für Festkörperforschung D-70569 Stuttgart www.mpi-stuttgart.mpg.de/kern

Die Abbildung von undurchsichtigen Proben mittels Summenfrequenz-Mikroskopie erfordert einen Winkel zwischen Mikroskopachse und Oberflächennormale von etwa 60 Grad. Wir stellen einen optischen Aufbau vor, der allgemein unter dieser Geometrie flache Oberflächen unverzerrt und über das ganze Bildfeld scharf abbildet. Experiment und Simulation demonstrieren die Eigenschaften eines solchen Aufbaus.