Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 26: Postersitzung (Rastersondentechniken, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Methodisches, Oxide und Isolatoren, Grenzfl
äche fest-flüssig, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Oberfl
ächenreaktionen, Zeitaufg. Spektroskopie, Phasenüberg
änge

O 26.39: Poster

Mittwoch, 13. März 2002, 14:30–17:30, Bereich C

Hochauflösende Röntgenphotoelektronen Spektroskopie (XPS) an ultradünnen Oxidschichten auf NiAl(100), (110) — •Carsten Tieg¹, A. Stierle¹, H. Dosch¹, V. Formoso², E. Lundgren³ und J. Anderson³ — ¹Max-Planck Institut für Metallforschung, Heisenbergstr. 1, 70569 Stuttgart — ²SPES - UNICAL 87036 Arcavacata di Rende, Italien — ³Dep. of Synchrotron Rad. Research, Institute of Physics, Lund University, Box 118, SE-221 00 Lund, Sweden

Geordnete nm-dicke Oxidschichten sind von großer Bedeutung in vielen technischen und wissenschaftlichen Bereichen. Ultradünne Al₂O₃-Oxidschichten auf NiAl Kristallen werden z.B. als Substrat für Modellkatalysatoren verwendet. Zur gezielten Kontrolle der Materialeigenschaften ist daher das Verständnis der Oxidstruktur sowie des Einflusses der Oxid-Legiergungsgrenzfläche wichtig. Mittels XPS wurde an den unter UHV Bedingungen präparierten NiAl (100), (110) Oberflächen das für die chemische Umgebung sensitive Al 2p_1/2,3/2 Dublett für verschiedene Anregungsenergien untersucht. Im Spektrum der oxidierten (100) Oberfläche zeigen sich neben den scharfen metallischen Al 2p Dublettpeaks breite, zu größeren Bindungsenergien verschobene Komponenten vom Al₂O₃ sowie schwächere Beiträge, die Al Ionen an der Grenzfläche zugeordnet wurden. Eine Oxidationstemperaturabhängigkeit der Peakpositionen und Intensitäten der nichtmetallischen Dubletts wurde festgestellt. An der sauberen (110) Oberfläche konnte außerdem eine Aufspaltung der Al 2p_1/2,3/2 Niveaus nachgewiesen werden, die nach Präparation einer hexagonal verzerrten Oxidstruktur verschwand.