Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 26: Postersitzung (Rastersondentechniken, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Methodisches, Oxide und Isolatoren, Grenzfl
äche fest-flüssig, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Oberfl
ächenreaktionen, Zeitaufg. Spektroskopie, Phasenüberg
änge

O 26.3: Poster

Mittwoch, 13. März 2002, 14:30–17:30, Bereich C

Hochaufgelöste aperturlose Nahfeldmikroskopie im sichtbaren und infraroten Spektralbereich — •Thomas Taubner, Rainer Hillenbrand und Fritz Keilmann — Max-Planck-Institut für Biochemie, 82152 Martinsried

Die Grundlage der aperturlosen optischen Nahfeldmikroskopie ist die Streuung von Licht an einer metallischen oder dielektrischen Tastspitze, die in optischer Nahfeldwechselwirkung mit der Probenoberfläche steht. Die räumliche Auflösung ist dabei nicht durch Beugungseffekte, sondern nur durch die Sondengröße (< 20 nm) bestimmt. Bei unseren auf Tapping-Mode AFM basierenden Streulicht-Nahfeldmikroskopen setzen wir kommerzielle AFM-Cantilever als Streusonden ein, die mit sichtbarem (λ = 633nm) und infrarotem (λ = 10 µm) Licht beleuchtet werden. Wir demonstrieren optischen Materialkontrast mit einer wellenlängenunabhängigen Auflösung bis hinunter zu 10 nm an topographiearmen Teststrukuren aus Polymer und Gold. Mithilfe eines einfachen Dipolmodells erklären wir die beobachteten Kontraste allein durch die dielektrischen Funktionen von Sonden- und Probenmaterial.