Regensburg 2002 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 26: Postersitzung (Rastersondentechniken, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Methodisches, Oxide und Isolatoren, Grenzfl
äche fest-flüssig, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Oberfl
ächenreaktionen, Zeitaufg. Spektroskopie, Phasenüberg
änge

O 26.6: Poster

Wednesday, March 13, 2002, 14:30–17:30, Bereich C

Simultane topographische und optische Charakterisierung von nahfeldoptischen Sonden — •D. Molenda, C. Höppener, H. Fuchs und A. Naber — Westfälische Wilhelms-Universität, Physikalisches Institut, Wilhelm-Klemm-Str. 10, 48149 Münster

Wir stellen eine neue Methode zur simultanen topographischen und optischen Charakterisierung von Apertursonden für die optische Nahfeldmikroskopie vor, die auf der Abbildung von kleinen, farbstoffdotierten Polysteren-Kugeln (Nanobeads, 20nm) basiert. Die nahfeldoptische Fluoreszenzaufnahme eines Nanobeads gibt die Intensitätsverteilung des elektrischen Feldes an der Endfläche der Sonde wieder. Informationen über den Abstand der Apertur zur Probe erhält man aus der simultan aufgenommenen Höhenabbildung.

Wir benutzen diese Methode, um eine mechanische Modifikation unserer Nahfeldsonden zu kontrollieren. Durch wiederholtes Drücken unserer Sonde gegen ein glattes Glassubstrat werden störende Vorsprünge entfernt wodurch die Apertur näher an die Probenoberfläche gelangt und eine deutliche Verbesserung der optischen Auflösung bewirkt wird.