Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 26: Postersitzung (Rastersondentechniken, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Methodisches, Oxide und Isolatoren, Grenzfl
äche fest-flüssig, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Oberfl
ächenreaktionen, Zeitaufg. Spektroskopie, Phasenüberg
änge

O 26.7: Poster

Mittwoch, 13. März 2002, 14:30–17:30, Bereich C

In-situ Abbildung magnetischer Domänen mit SNOM im UHV — •Gereon Meyer, Tristan Crecelius, Günter Kaindl und Andreas Bauer — Institut für Experimentalphysik, Freie Universität Berlin, Arnimallee 14, 14195 Berlin

Wir verwenden ein optisches Rasternahfeldmikroskop (SNOM) zur hochauflösenden Abbildung von Domänenstrukturen in dünnen magnetischen Filmen. Der magnetische Kontrast beruht dabei auf dem magneto-optischen Kerr-Effekt, den wir mit Hilfe eines Sagnac-Interferometers messen. Das SNOM wird im Ultrahochvakuum (UHV) betrieben, wobei die in-situ präparierten Proben bei Temperaturen zwischen 20 K und 450 K und in äußeren Magnetfeldern bis zu 1500 Oe untersucht werden können. Gegenüber konventioneller Kerr-Mikroskopie gewinnen wir eine Größenordnung an Ortsauflösung. Wir präsentieren erste Ergebnisse von Messungen an ultradünnen Fe/Cu(100) und Ni/Cu(100) Filmen.

[1] B.L. Petersen, A.Bauer, G. Meyer, T. Crecelius, and G. Kaindl, Appl. Phys. Lett. 73, 538 (1998).

[1] G. Meyer, T. Crecelius, G. Kaindl, and A. Bauer, Journ. Magn. Mat. (2001), in print.