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O: Oberflächenphysik
O 26: Postersitzung (Rastersondentechniken, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Methodisches, Oxide und Isolatoren, Grenzfl
äche fest-flüssig, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Oberfl
ächenreaktionen, Zeitaufg. Spektroskopie, Phasenüberg
änge
O 26.8: Poster
Wednesday, March 13, 2002, 14:30–17:30, Bereich C
Kontrolle der strukturellen, elektrischen und magnetischen Eigenschaften Al2O3-bedeckter Co-Schichten mit dem Rasterkraftmikroskop — •V. Hagen, M. Getzlaff und R. Wiesendanger — Universität Hamburg, Institut für Angewandte Physik, Zentrum für Mikrostrukturforschung, Jungiusstraße 11, 20355 Hamburg
Unter UHV-Bedingungen ermöglicht es die spinpolarisierte Rastertunnelmikroskopie, magnetische Oberflächeneigenschaften auf kleinster Skala zu untersuchen und abzubilden. Für praktische Anwendungen, z.B. zur Analyse bei der Entwicklung neuer, auf magnetischen Effekten basierender Bauelemente, ist ein UHV-unabhängiges Meßverfahren von großem Vorteil. Die Vakuumbarriere wird unter Umgebungsbedingungen durch eine oxidische Tunnelbarriere ersetzt. Von besonderer technologischer Bedeutung sind in diesem Zusammenhang dünne Al2O3-Schichten mit sehr homogenen elektrischen Eigenschaften. Über die Präparation dünner Al2O3-Schichten auf Co-Substraten mit Hilfe eines thermisch und durch UV-Bestrahlung unterstützten Oxidationsverfahrens sowie über die ortsaufgelöste strukturelle, elektrische und magnetische Charakterisierung der hergestellten Schichten mit Hilfe verschiedener Rastersondenmethoden (AFM, MFM, CAFM) wird berichtet.