Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 30: Methodisches (Experiment und Theorie)

O 30.3: Vortrag

Donnerstag, 14. März 2002, 11:45–12:00, H44

LEED-Holographie mit der Volumenstruktur als Referenz: Maximum-Entropie-Lösung des Vielfachstreuproblems — •A. Seubert¹, D. K. Saldin² und K. Heinz¹ — ¹Festkörperphysik, Universität Erlangen-Nürnberg, Staudtstraße 7, D-91058 Erlangen — ²Department of Physics, University of Wisconsin-Milwaukee, P.O. Box 413, Milwaukee, WI 53201, USA

Wir stellen eine neue direkte Methode zur LEED-Strukturanalyse vor, die bei bekannter Volumenstruktur der Probe die Atomanordnung innerhalb der gesamten Oberflächeneinheitszelle direkt aus gemessenen I(E)-Kurven rekonstruiert. Ebenso wie die LEED-Holographie beruht sie auf der Zerlegung des dynamischen Strukturfaktors in eine Referenz- und Objektwelle. Dabei werden diese jedoch nicht durch ein exponiertes und Strahl-teilendes Atom erzeugt, sondern als Streubeiträge der als bekannt voraussetzbaren Volumenstruktur (Referenzwelle) und einer darüber liegenden, unbekannten Oberflächenschicht (Objektwelle) interpretiert. Letztere wird als Linearkombination elementarer Versuchs-Objektwellen entwickelt, wobei die Streudynamik zwischen Oberfläche und Volumen in Doppelbeugungsnäherung berücksichtigt wird. Die Entwicklungskoeffizienten der Linearkombination können aus den Messdaten mittels eines Maximum-Entropie-Algorithmus iterativ bestimmt werden. Sie geben die räumliche Anordnung aller Atome in der Oberflächeneinheitszelle wieder, im Unterschied zur LEED-Holographie (nur atomares Cluster um den Strahlteiler herum). Die Leistungsfähigkeit der hier erstmals für den Fall dynamischer Beugung vorgestellten Methode wird für verschiedene Oberflächenstrukturen demonstriert.