Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 30: Methodisches (Experiment und Theorie)
O 30.5: Vortrag
Donnerstag, 14. März 2002, 12:15–12:30, H44
Das SMART Projekt: Stand und Perspektive des korrigierten Spektromikroskops — •Th. Schmidt1, U. Groh1, R. Fink1, E. Umbach1, H. Marchetto2, O. Schaff2, W. Engel2, H. Kuhlenbeck2, A.M. Bradshaw2, R. Schlögl2, H.-J. Freund2, P. Hartel3, D. Preikszas3, R. Spehr3, H. Rose3, G. Lilienkamp4, E. Bauer4 und G. Benner5 — 1Exp. Physik II, Universität Würzburg — 2Fritz-Haber-Institut, Berlin — 3Technische Hochschule Darmstadt — 4Technische Universität Clausthal — 5LEO GmbH, Oberkochen
Das SMART Spektromikroskop ist das ambitionierteste Projekt auf dem Gebiet der spektroskopischen Photoemissionsmikroskopie. Das Instrument wird die Untersuchung von Oberflächen mittels Mikroskopie, Spektroskopie und Beugung bei einer Ortsauflösung von unter 2 nm und 100 meV Energieauflösung ermöglichen. Diese extrem hohe Ortsauflösung (theoretisch 0,3 nm) wird durch die gleichzeitige Korrektur der sphärischen und chromatischen Aberrationen des Linsensystems erreicht. Hierfür wird ein elektrostatischer Tetrodenspiegel in Kombination mit einem hochsymmetrischen Strahlteiler zusammen mit einem korrigierten OMEGA-Filter in ein Photoelektronenmikroskop eingebaut. Zusätzlich zu den photonenstimulierten spektroskopischen Methoden (XPEEM, XPS, XAS, NEXAFS, PED, usw.) steht bei Verwendung einer Elektronenkanone auch die Charakterisierung mit reflektierten Elektronen (LEEM, MEM, LEED, AES, ELS, usw.) zur Verfügung. Über den derzeitigen Stand des Gerätes, das als Vorversion an einem Hochbrillanz-Undulator-Strahlrohr bei BESSY II in Berlin aufgebaut ist, wird berichtet und ein Ausblick auf zukünftige Anwendungen gegeben.