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O: Oberflächenphysik

O 32: Adsorption an Oberfl
ächen (IV)

O 32.7: Vortrag

Donnerstag, 14. März 2002, 17:00–17:15, H43

Xe- und Ar-Schichten auf Metalloberflächen: Geometrische und elektronische Struktur — •I. Barke und H. Hövel — Universität Dortmund, Experimentelle Physik I, D-44221 Dortmund

Edelgas-Adsorbatschichten stellen in vielerlei Hinsicht ein ideales Modellsystem dar. Geometrische und elektronische Eigenschaften verschiedener Systeme werden vorgestellt. Verwendete Messverfahren sind dabei Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie (STM/STS) sowie Photoemission (UPS). Insbesondere wird auf den Oberflächenzustand (OFZ) der (111)-Edelmetalloberflächen eingegangen. Für ein detailliertes Verständnis der Kopplung zwischen dem Edelgas und dem OFZ ist die Untersuchung weiterer Probensysteme notwendig. Bisher konnte ausschließlich Xe verwendet werden, bedingt durch die bei der Präparation erreichbare Probentemperatur von T>40 K. Ein neu entwickelter Probenhalter erlaubt nun Temperaturen bis unterhalb von 10 K. Erste Adsorptionsexperimente am Beispiel von Ar auf Au(111) mit Charakterisierung durch Elektronenbeugung (LEED) werden vorgestellt.