O 5: Rastersondentechniken (I)
Montag, 11. März 2002, 11:15–13:00, H44
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11:15 |
O 5.1 |
Hochgeschwindigkeits-Rasterkapazitätsspektroskopie an Halbleitermikrostrukturen — •Martin von Sprekelsen, Johannes Isenbart und Roland Wiesendanger
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11:30 |
O 5.2 |
Hochauflösende Tunnelspektroskopie und Rastertunnelmikroskopie im UHV bei Strömen kleiner als 100fA auf der Basis eines neu entwickelten in-situ IVC — •Markus Maier, Andreas Bettag, Michael Wittmann, Uwe Fuchs, Albrecht Feltz und Thomas Berghaus
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11:45 |
O 5.3 |
Transmission, Control and Coherent Propagation of Surface Plasmons in Metal Nanostructures — •Viktor Malyarchuk, Christoph Lienau, J. W. Park, K. H. Yoo, S. C. Hohng, Y. C. Yoon, and D. S. Kim
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12:00 |
O 5.4 |
Nahfeldspektroskopie im Frequenzbereich von 30 GHz bis 1.5 THz — •Stephan Mair, Bruno Gompf und Martin Dressel
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12:15 |
O 5.5 |
Eine neue hochauflösende Apertursonde für die optische Nahfeldmikroskopie — •A. Naber, D. Molenda, U. C. Fischer, C. Höppener, H.-J. Maas und H. Fuchs
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12:30 |
O 5.6 |
Determination of the Effective Optical Aperture by Deconvolution — •Matthias Wellhöfer, Olaf Hollricher, and Othmar Marti
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12:45 |
O 5.7 |
Development and characterisation of a fully UHV compatible SEM column with 3 nm resolution — •J. Westermann
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