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SYME: Mechanical Properties of Thin Films
SYME III: HV III
Dienstag, 12. März 2002, 15:30–16:00, H 16
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15:30 | SYME III.1 | Hauptvortrag: In-situ Electron Microscopy Study of Dislocation Processes in Thin Metal Films — •Gerhard Dehm |