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SYME: Mechanical Properties of Thin Films

SYME IV: HV IV

Dienstag, 12. März 2002, 16:30–17:00, H 16

	16:30	SYME IV.1	Hauptvortrag: Adhesion and Fracture in Thin-Film Device Structures: Experiments and Multi-Scale Simulations — •Reinhold H. Dauskardt