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Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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SYME: Mechanical Properties of Thin Films

SYME VI: HV VI

Dienstag, 12. März 2002, 17:30–18:00, H 16

17:30 SYME VI.1 Hauptvortrag: Sensors and the influence of process parameters and thin films — •Hans Reiner Krauß
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