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SYPF: Struktur und Dynamik in dünnen Polymerfilmen

SYPF 2: Poster Session

SYPF 2.37: Poster

Donnerstag, 14. März 2002, 09:00–18:00, Poster B

Strukturierung ultradünner Polymerschichten — •Sven Trogisch¹, Ch. Loppacher¹, St. Grafström¹, L.M. Eng¹, F. Braun² und B. Voit² — ¹Institute für Angewandte Photophysik, Technische Universität Dresden, D-01062 Dresden — ²Institut für Polymerforschung Dresden e.V., D-01069 Dresden

Wir zeigen Untersuchungen der Materialeigenschaften von Diazosulfonatcopolymer-Schichten. Das besondere Augenmerk liegt dabei auf den Möglichkeiten der stukturierten Metallisierung und der Anwendung als optische Oberflächenschicht speziell für die Nanotechnologie. Eigens zur Analyse der Strukturierung der ultradünnen Polymerschichten wurde ein besonderer Aufbau eines konfokal optischen Rastersondenmikroskops verwendet. Wir zeigen Messung mit konfokaler Lasermikroskopie, Atomic-Force-Microscopy sowie XPS. Damit können Aussagen zur Morphologie, der chemischen Zusammensetzung der Oberfläche sowie zu optischen und strukturellen Phasenübergängen gemacht werden. Durch den Aufbau der Meßapparatur konnten die Eigenschaften der Schichten vor, während und nach der Belichtung mit dem Laser unterschiedlicher Dauer, Leistung und Wellenlänge untersucht werden. Es ist eine deutliche Veränderung des Absorptionsspektrums als Funktion der Belichtungszeit auf einer Längenskala von Nanometer bis Millimeter nachzuweisen.