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TT: Tiefe Temperaturen
TT 7: Postersitzung I: Anwendungen der Supraleitung (1-6), Dünne Schichten, Josephsonkontakte, SQUIDs (7-17), Neue und unkonv. Supraleiter(18-23), Amorphe- und Tunnelsyst. (24-28), Quantenflüssigkeiten (29-30), Syst. korr. Elektr.: Theorie I (31-45)
TT 7.9: Poster
Monday, March 11, 2002, 14:30–18:00, A
In-situ RHEED-Analyse beim Überwachsen strukturierter YBa2Cu3O7-Schichten — •Matthias Karger und Meinhard Schilling — Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik, TU Braunschweig, Hans-Sommer-Straße 66, 38106 Braunschweig
Die Eigenschaften von Josephson-Kontakten in Rampengeometrie aus YBa2Cu3O7 werden entscheidend vom Kristallwachstum im Bereich der Rampe beeinflusst. Dabei spielen die Heteroepitaxie von YBa2Cu3O7 und Barrierenmaterial untereinander ebenso eine Rolle wie die Wechselwirkung mit verschiedenen Substratmaterialien. Wir präsentieren erste Ergebnisse zum Wachstum bei der Laserdeposition mit einem neuen In-situ RHEED-System. Zur Charakterisierung von Effekten im Rampenbereich werden Proben hergestellt, die nahezu ausschließlich aus Rampen bestehen. Desweiteren werden die Ergebnisse der RHEED-Untersuchungen mit Daten der Röntgendiffraktometrie verglichen.