T 203: Halbleiterdetektoren II
Dienstag, 11. März 2003, 14:00–15:45, FO8
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14:00 |
T 203.1 |
Messungen zur Qualität der Bump-Bonds bei ATLAS-Modulen und Lasermessungen zur Zeitauflösung der ATLAS-Pixelelektronik — •Robert Kohrs, W. Dietsche, A. Engelbertz, A. Eyring, P. Fischer, F. Hügging, S. Gross, G. Martinez, W. Ockenfels, I. Peric, O. Runolfsson, T. Stockmanns und N. Wermes
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14:15 |
T 203.2 |
ALTAS-Pixel-Detektorkontrollsystem beim Testbeam 2002 — •Joachim Schultes, Martin Imhäuser, Susanne Kersten und Peter Mättig
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14:30 |
T 203.3 |
Aufbau eines Cosmic-Teststandes mit Siliziumstreifendetektoren — •Stefan Kasselmann, Markus Axer, Franz Beißel, Prof. Günter Flügge, Torsten Franke, Prof. Joachim Mnich, Dr. Andreas Nowack, Dr. Oliver Pooth und Dr. Reiner Schulte
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14:45 |
T 203.4 |
Tests von Silizium-Streifen-Detektoren für den CMS-Detektor mit Hilfe des ARC-Systems — •Torsten Franke, Markus Axer, Franz Beißel, Prof. Günther Flügge, Stefan Kasselmann, Prof. Joachim Mnich, Dr. Andreas Nowack, Michael Pöttgens und Dr. Reiner Schulte
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15:00 |
T 203.5 |
Testverfahren für Silizium-Detektormodule des CMS-Spurdetektors — •Jan Olzem
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15:15 |
T 203.6 |
Testsystem mit Infrarot LEDs für Silziumstreifendetektoren — •Th. Weiler, T. Barvich, P. Blüm, G. Dirkes, M. Fahrer, F. Hartmann, S. Heier, Th. Müller, W. Schwerdtfeger, H.J. Simonis und M. Waldschmitt
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15:30 |
T 203.7 |
Signal-zu-Rausch Messungen an CMS-Mikrostreifendetektoren — •S. Heier, G. Dirkes, M. Fahrer, Th. Müller, P. Blüm, H.J. Simonis, M. Waldschmitt und Th. Weiler
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