DS 13: Strukturbildung
Mittwoch, 26. März 2003, 16:45–18:15, GER/37
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16:45 |
DS 13.1 |
Einfluss der Schichtdicke auf strukturelle und optische Eigenschaften von In(2)O(3):Sn Schichten — •Dieter Mergel, Zhaohui Qiao und Rudolf Latz
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17:00 |
DS 13.2 |
STM/STS Untersuchungen der morphologischen und elektronischen Eigenschaften von dünnen Fe-Filmen auf Cr(001) — •R. Ravlić, S. Kuck, M. Bode und R. Wiesendanger
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17:15 |
DS 13.3 |
Das spannende Spiel der Spannungen, Bildung und Kontrolle nanostrukturierter Metalltemplate — •Tobias Beck und Hubert Zajonz
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17:30 |
DS 13.4 |
Characterization of self-assembled nanostructures formed by Cu deposition onto VSe2 surfaces — •S. Hollensteiner, E. Spiecker, W. Jäger, H. Schroeder, and H. Haselier
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17:45 |
DS 13.5 |
Growth of CeO2 thin films deposited on biaxially textured nickel substrates — •Dominique Eyidi, Balaji Birajdar , and Oliver Eibl
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18:00 |
DS 13.6 |
Evolution of microstructure and preferred orientation in TiAlN thin films – an in-situ study by synchrotron x-ray scattering — •Manfred Beckers, Norbert Schell, and Wolfhard Möller
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