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DS: Dünne Schichten
DS 1: FV-internes Symposium „Dünnschichtanalytik“ I
Montag, 24. März 2003, 09:30–12:50, GER/37
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09:30 | DS 1.1 | Hauptvortrag: Stress, strain and magnetic anisotropy: all is different in nanometer thin films — •Dirk Sander |
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10:10 | DS 1.2 | Hauptvortrag: Scanning probe methods for thin film analysis — •Mathias Getzlaff |
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10:50 | DS 1.3 | Hauptvortrag: Orts- und zeitaufgelöste Analytik dünnster Schichtsysteme — •Christian Ziethen |
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11:30 | DS 1.4 | Hauptvortrag: Depth microscopy on ultra thin layers using energetic ion beams — •Günther Dollinger |
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12:10 | DS 1.5 | Hauptvortrag: A Sharp Eye on Thin Films - Advances Through Synchrotron Radiation — •Ralf Röhlsberger |