Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 24: Poster

DS 24.16: Poster

Dienstag, 25. März 2003, 14:30–17:00, P2a

RHEED Untersuchungen beim heteroepitaktischem Wachstum von YBa₂Cu₃O₇ — •Matthias Karger und Meinhard Schilling — Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik, TU Baunschweig, Hans-Sommer-Straße 66, D-38106 Braunscheig

Die Eigenschaften von Josephson-Kontakten in Rampengeometrie aus YBa₂Cu₃O₇ mit Barrieren aus PrBa₂Cu₃O₇ streuen um etwa eine Größenordnung. Diese Streuung ist offensichtlich im Rampenbereich stark von den Wachstumsbedingungen abhängig. Hier spielt die Heteroepitaxie der einzelnen Komponenten eine besondere Rolle. Zur Charakterisierung des Wachstums auf verkippten bzw. hochindizierten YBa₂Cu₃O₇-Oberflächen wurden spezielle Proben strukturiert, die eine in-situ Hochdruck-RHEED Analyse der epitaktischen Bedingungen ermöglichen. Insbesondere die Gitterkonstantenrelaxation in den ersten Monolagen soll Einblicke in den Aufbau der Grenzflächen liefern. Diese Ergebnisse werden mit Daten der hochaufgelösten Röntgendiffraktometrie und Rasterkraftmikroskopie verglichen.