Dresden 2003 – scientific programme
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HL: Halbleiterphysik
HL 49: Poster II
HL 49.87: Poster
Thursday, March 27, 2003, 16:30–19:00, HSZ/P2
XSTM vs µ-PL: Ein direkter Vergleich der strukturellen und optischen Eigenschaften von (AlGa)As Quantenfilmen — •L. Winking1, C. Ropers1, M. Wenderoth1, T. C. G. Reusch1, M. Erdmann1, S. Malzer2, G. Döhler2 und R. G. Ulbrich1 — 1IV. Phys. Inst. der Univ. Göttingen, Bunsenstr. 13, 37073 Göttingen — 2Inst. f. Techn. Physik I, Univ. Erlangen-Nürnberg, Erwin-Rommel-Str. 1, 91058 Erlangen
Wir haben ein System von (AlGa)As Quantenfilmen unterschiedlicher Dicke sowohl mit Querschnitts-Rastertunnelmikroskopie als auch mit µ-Photolumineszenz von der atomaren bis hin zur mesoskopischen Skala untersucht. Mit Hilfe eines konfokalen Raster-µ-PL-Mikroskops haben wir Lumineszenz-Karten mit einer räumlichen Auflösung von etwa 500 nm aufgenommen. Die inhomogenen Linienbreiten der Lumineszenz der Quantenfilme deuten auf Dickenfluktuationen von jeweils weniger als einer Monolage hin. Im Gegensatz zu bisherigen Untersuchungen an anderen Quantenfilmen [1] finden wir kein Monolagensplitting. Darüber hinaus beobachten wir scharfe Lumineszenzlinien von lateral gebundenen Exzitonen [2]. Diesen optischen Eigenschaften werden hochauflösende XSTM-Messungen aus demselben Probenbereich gegenübergestellt. Hier konnten auf einer Länge von einigen 100 nm Trogbreite und Grenzflächenrauhigkeit der Quantenfilme mit atomarer Genauigkeit bestimmt werden. Diese Arbeit wurde von der DFG im Rahmen des SFB 602 (TP A7) gefördert.
[1] D. Gammon et al., Phys.Rev.Lett. 76, 3005 (1996)
[2] A. Zrenner et al., Phys.Rev.Lett. 72, 3382 (1994)