Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm

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MA: Magnetismus

MA 10: Magnetische Abbildungsverfahren

MA 10.4: Vortrag

Dienstag, 25. März 2003, 11:00–11:15, HSZ/04

Kalibrierung von MFM-Spitzen an stromführenden parallelen Leiterbahnen — •Th. Kebe, A. Carl und E.F. Wassermann — Gerhard-Mercator-Universität Duisburg, Tieftemperaturphysik, 47048 Duisburg

Magnetkraftmikroskopische (MFM) Untersuchungen des Streufeldes nanostrukturierter, stromführender paralleler Leiterbahnen, die mit Elektronenstrahllithographie hergestellt wurden, erlauben es, die magnetischen Eigenschaften kommerzieller MFM-Spitzen vom Typ MESP (magnetic etched silicon probe) im Rahmen des Punktsondenmodells [1] zu kalibrieren. Aus Messungen in Abhängigkeit der lift-Höhe der Spitze und (i) des gegenseitigen Abstandes und der Breite der Leiterbahnen sowie (ii) der Abklinglänge des Streufeldes in z-Richtung wird das magnetische Dipolmoment bzw. das magnetische Monopolmoment der Spitze und seine imaginäre Position innerhalb der Spitze bestimmt. Es wird gezeigt, dass kalibrierte MFM-Spitzen für quantitative Messungen der Magnetisierung nanoskaliger Proben mit MFM verwendet werden können, sofern die Streufeldgeometrie der Proben mit der paralleler Leiterbahnen übereinstimmt. Weitere Möglichkeiten und Voraussetzungen für quantitative magnetkraftmikroskopische Untersuchungen werden ebenfalls diskutiert. [1] U. Hartmann; Physics Letters A137, 475 (1989)