Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm

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MA: Magnetismus

MA 10: Magnetische Abbildungsverfahren

MA 10.5: Vortrag

Dienstag, 25. März 2003, 11:15–11:30, HSZ/04

Optimierung von MFM Sonden — •Michael R. Koblischka¹, Bernd Hewener¹, Astrid Müller¹, Uwe Hartmann¹ und Thomas Sulzbach² — ¹FR Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, Postfach 151150, 66041 Saarbrücken — ²Nanoworld Services GmbH, Schottkystrasse 10

Nicht für alle Proben sind speziell angepasste MFM-Spitzen kommerziell erhältlich. Als die die Qualität einer Spitze definierenden Parameter gehen das verwendete magnetische Material, die Schichtdicke, das entstandene magnetische Volumen und dessen Ausformung und nicht zuletzt der Herstellungsprozess ein. Auch die Quantität einer Messung wird durch diese Faktoren bestimmt, wie das Signal zu Rausch-Verhältnis und die Auflösung, die ohne Störung oder gar zerstörung der Probenstruktur erreicht werden kann. Wir vergleichen verschiedene Ansätze zur Spitzenproduktion anhand der Messergebnisse im MFM. Hierbei ist entscheidend, dass immer das Gesamtsystem Probe-Spitze einer Optimierung unterliegen muss. Das bedeutet, dass eine ideale Spitze nur für eine bestimmte Probe angegeben werden kann. Die untersuchten Proben umfassen Permalloy, CoPt-Multilagen, TeFeCo und Eiseneinkristalle. Die höchste erreichte Auflösung an Permalloyproben beträgt 10 nm.