Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

MA: Magnetismus

MA 10: Magnetische Abbildungsverfahren

MA 10.7: Vortrag

Dienstag, 25. März 2003, 11:45–12:00, HSZ/04

Sondenstreufelduntersuchungen mittels magnetischer Kraftmikroskopie — •Astrid Nora Müller, Michael Rudolf Koblischka und Uwe Hartmann — Fachrichtung Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, Postfach 151150, 66041 Saarbrücken

Die in der magnetischen Kraftmikroskopie (MFM) verwendeten Streufeldsonden bedürfen ebenso wie die zu untersuchenden Proben einer Charakterisierung. Im MFM selbst wird die Wechselwirkung zwischen Probe und Sonde detektiert, woraus sich aber direkt keine quantitativen Aussagen ergeben. Da aber die verwendete Spitze wesentlich den Kontrast bestimmt, wurden detaillierte Untersuchungen zur Charakterisierung des Sondenstreufeldes durchgeführt: Wir deponierten die im MFM oft verwendeten Elektronenstrahlspitzen auf Siliziumsubstraten und bedeckten sie wie gewohnt mit verschiedenen magnetischen Materialien zur Herstellung von Dünnschichtsonden. Dann wurden die Modellsonden mittels MFM untersucht. Die Sonde wird damit zur Probe. Wir erhalten damit quantitative Aussagen über die Stärke und Reichweite des Spitzenstreufeldes. Es lassen sich auch verschiedene Sputtermethoden bei ganzer Bedeckung oder Teilbedeckung der Sonde mit magnetischen Materialien vergleichen. Insbesondere soll der Einfluß der Spitzengeometrie auf das Streufeld ermittelt werden.