Dresden 2003 – scientific programme
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MA: Magnetismus
MA 14: Poster: Schichten(1-31), Spinabh.Trsp.(32-47), Exch.Bias(48-54), Spindyn.(55-64), Mikromag.(65-76), Partikel(77-88), Oflmag.(89-92), Spinelektr.(93-98), Elektr.Theo.(99-103), Mikromag+PhasÜ+Aniso.(104-122), MagnMat.(123-134), Messm+Mol-Mag.(135-139), Kondo(140-151)
MA 14.143: Poster
Tuesday, March 25, 2003, 15:15–19:15, Zelt
Elektronenspektroskopie an Fe1−xCoxSi-Einkristallen im Vergleich zu dünnen Schichten — •D. Zur, A. Borgschulte, D. Menzel und J. Schoenes — Institut für Halbleiterphysik und Optik, Mendelssohnstraße 3, 38106 Braunschweig
Das Fe1−xCoxSi-System wurde für unterschiedliche Co-Konzentrationen auf seine elektronischen Eigenschaften mittels elektronenspektroskopischer Methoden an einkristallinen Oberflächen untersucht. Die Bulk-Proben wurden nach dem Czochalski-Verfahren hergestellt. Die Probenoberfläche wurde vor der Analyse poliert und im Ultrahoch-Vakuum durch Ionenätzen und Anlassen gereinigt. Die Orientierung wurde durch RHEED-Analyse, die Zusammensetzung der Proben durch Augerelektronenspektroskopie überprüft. Aus den core level shifts der Augerlinien wurde der Ladungstransfer vom Eisen zum Silizium ermittelt. Die Abhängigkeit der Linienform von Elektronenkorrelationseffekten wird diskutiert. Die aus der winkelabhängigen Photoemission gewonnene experimentelle Bandstruktur von FeSi wird mit theoretischen SPR-KKR-Rechnungen verglichen. Die Ergebnisse für das Bulk-Material werden denen von dünnen Schichten gegenübergestellt.