Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

MA: Magnetismus

MA 17: Magnetische Dünne Schichten II

MA 17.2: Vortrag

Mittwoch, 26. März 2003, 16:15–16:30, HSZ/04

Resonante magnetische Reflektometrie: Ein quantitatives Werkzeug zur magnetischen Tiefenprofilanalyse einzelner Lagen — •E. Goering¹, J. Geissler¹, S. Gold¹, D. Schmitz², H. Maletta² und G. Schütz¹ — ¹Max-Planck-Insitut für Metallforschung, Stuttgart — ²Hahn-Meitner-Institut, Berlin

Mit Hilfe der resonanten zirkularen magnetischen Röntgenreflektometrie wurde an der Co L₃-Kante erstmals das Magnetisierungsprofil von Co in einer einzigen Pt/Co/Cu-Schicht quantitativ vermessen. Zur Simulation der beobachteten Asymmetrieverhälltnisse wurden die Grenzflächen künstlich in ein Viellagensystem zerlegt. Die gemessenen Asymmetrieverhältnisse konnten mit einem neu entwickelten und magnetisch modifizierten Parratt Algorithmus, der in kinematischer Näherung π- und σ- Streukanäle fernab der Kleinwinkelnäherung berücksichtigt, nahezu perfekt wiedergegeben werden. Die dadurch bestimmten Co-Magnetisierungsprofile sind in sehr guter Übereinstimmung zu komplementären Untersuchungen.