Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 12: Postersitzung (Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Grenzfl
äche fest-flüssig, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Halbleiteroberfl
ächen und Grenzfl
ächen, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Rastersondentechniken, Methodisches)

O 12.51: Poster

Montag, 24. März 2003, 18:00–21:00, P1

Entwicklung eines UHV-Tieftemperatur-Rasterkraft-/Tunnel-Mikroskops — •Michael Vogelgesang, Ralf Vogelgesang, Wolfgang Stiepany, Lars Diekhöner, M. Alexander Schneider und Klaus Kern — Max-Planck-Institut für Festkörperforschung, Heisenbergstraße 1, D-70569 Stuttgart

Der Aufbau eines Rasterkraft-/Rastertunnelmikroskopes für den Betrieb im Ultrahochvakuum bei tiefen Temperaturen wird beschrieben. Die Kühlung wird durch einen kommerziellen Helium-Kryostaten realisiert. Durch einen modularen Aufbau des Mikroskops lassen sich konstruktionstechnische Änderungen leicht realisieren.

Die Detektion im AFM-Modus erfolgt nach dem “Beam-deflection”-Schema, das die Messung von horizontalen und vertikalen Kräften erlaubt. Dabei wird ein durch eine Glasfaser gelieferter Laserstrahl mittels zweier Linsen über einen Spiegel auf die Messsonde fokussiert. Der reflektierte Strahl wird über einen weiteren Spiegel auf eine 4-Quadrantendiode gelenkt. Die fokussierende Optik ist ebenso wie die Quadrantendiode durch je einen xy-Motor nachjustierbar.

Bei Raumtemperatur besitzt das Mikroskop einen Scanbereich von ca. 10 µm. Für die Grobannäherung wurde ein xy-Verschiebetisch mit einem Verstellweg von ca. 6 mm und ein z-Motor integriert.