Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
O: Oberflächenphysik
O 18: Rastersondentechniken II
O 18.5: Vortrag
Dienstag, 25. März 2003, 12:15–12:30, M\"UL/ELCH
Modellierung der Feldverstärkung an metallischen Spitzen — •Jan Renger1, Ingo Hellmann1, Stefan Grafström1, Volker Deckert2 und Lukas M. Eng1 — 1Institut für Angewandte Photophysik, TU Dresden — 2Institute of Spectrochemistry and Applied Spectroscopy, Dortmund
Die gezielte Nutzung der elektrischen Feldüberhöhung an Nanoobjekten ermöglicht die Messung von optischen Eigenschaften mit einer Auflösung deutlich unterhalb des Beugungslimits. Die etablierten experimentellen Techniken, wie aperturlose-optische Nahfeldmikroskopie (s-SNOM) oder die spitzenverstärkte Raman Spektroskopie (TERS) benutzen meist einfache Ellipsoidmodelle zur Erklärung der Feldüberhöhung an Metallspitzen. Ein genauerer Blick legt die engen Gültigkeitsgrenzen offen. Das Realsystem (ausgedehnte Ag-Spitze) verhält sich bei weitem anders als dies das Ellispoidmodell erwarten lässt. Dephasierte Anregungen über den Spitzenquerschnitt sowie dämpfende Eigenschaften des angeregten Metalls erfordern eine genauere Beschreibung. Mit Hilfe der Multiple Multipole Methode (MMP) berechnen wir den Feldverlauf an realistischen 3D-Spitzengeometrien. Die sich daraus ergebende Feldüberhöhung ist deutlich niedriger als für kleine Nanopartikel (Ellipsoide). Weiterhin zeigt sich eine starke spektrale Abhängigkeit im optischen Bereich für Edelmetalle; welche direkt Einfluss auf die quantitative Auswertung von Messdaten hat.