Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 37: Rastersondentechniken III

O 37.4: Vortrag

Freitag, 28. März 2003, 12:00–12:15, HSZ/02

Einfluß von Adsorbatfilmen und Substratoberflächen auf die "shear force" Distanzregelung. — •Stefan Hoppe, Georgios Ctistis, Jens Paggel und Paul Fumagalli — Institut für Experimentalphysik, Freie Universität Berlin, Arnimallee 14, 14195 Berlin

Eine gängige Methode, die Abstandskontrolle eines Nahfeldmikroskops zu realisieren, ist die Messung der Kräfte zwischen einer lateral oszillierenden Spitze und der Substratoberfläche. Obwohl dieser Kontrollmechanismus zum Standard zählt, ist die Natur der Wechselwirkung weitgehend unbestimmt. Eine Möglichkeit, diese Kräfte zu bestimmen, bieten sogenannte Distanzkurvenmessungen. Amplitude und Phase der oszillierenden Spitze werden in Abhängigkeit vom Abstand aufgezeichnet und mit Hilfe des Modells des harmonischen Oszillators analysiert. Die hieraus bestimmten Feder- und Dämpfungskonstanten sind von der Beschaffenheit der zu untersuchenden Probenoberfläche abhängig. Um die Oberflächenbeschaffenheit als experimentellen Parameter einsetzen zu können, wurden die Experimente unter UHV-Bedingungen durchgeführt.