Dresden 2003 – scientific programme

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 20: Postersitzung IV (Mesoskopische Systeme, Supraleitung: Massivmaterialien, Bandleiter, Pinning, Vortexdynamik, Transporteigenschaften, Korngrenzen)

TT 20.6: Poster

Thursday, March 27, 2003, 14:30–19:00, P2c, P2d

Elektronischer Transport durch C₆₀ — •T. Böhler, J. Grebing und E. Scheer — FB Physik - Universität Konstanz

Wir stellen ein Experiment zur Messung des differentiellen Leitwerts von einzelnen oder wenigen C₆₀-Molekülen vor, die zwischen einatomaren Spitzen eines mechanisch kontrollierten Bruchkontaktes (MCB) eingebettet werden. Wir verdampfen C₆₀ unter HV-Bedingungen auf einen geöffneten Bruchkontakt und nehmen bei Raumtemperatur Strom-Spannungs-Kennlinien auf. Parallel hierzu werden auch Versuche durchgeführt, bei denen die C₆₀-Moleküle in Lösung auf den MCB aufgebracht werden. Anschließend wird das Lösungsmittel im Vakuum verdampft und bei Raumtemperatur Kennlinien aufgenommen. Als Elektrodenmaterial wird Aluminium bzw. Gold verwendet.

Wir erhoffen uns dadurch einen Vergleich mit theoretischen Voraussagen: Durch die hohe Symmetrie des C₆₀ sind nur zwei verschiedene Konfigurationen wahrscheinlich; das Atom an der Spitze des MCB kann entweder in der Mitte eines Fünf- oder eines Sechseckes liegen[1,2]. Dies sollte sich im Experiment durch zwei unterschiedliche Typen von Kennlinien zeigen. Erste Ergebnisse werden diskutiert.

[1] J.J. Palacios et al., Nanotechnology 12 160 (2001)

[2] R. Gutierrez et al., PRB 65 113410 (2002)