Kiel 2004 – scientific programme
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P: Plasmaphysik
P XVII: HV XVII
P XVII.1: Invited Talk
Thursday, March 11, 2004, 10:30–11:00, H\"orsaal H
Diagnostik an Niederdruck-Xe-Lampen — •Hartmut Lange — INP Greifswald, 17489 Greifswald
Gegenwärtig ist ein steigendes Interesse an umweltfreundlichen, Hg-freien Entladungslampen zu verzeichnen. Eine Möglichkeit der Realisierung bietet das Säulenplasma von Xe-Niederdruckentladungen mit seiner VUV-Resonanzstrahlungsemission, die über Leuchtstoffe in den sichtbaren Spektralbereich konvertiert wird. Die Analyse und Optimierung der VUV-Strahlungsleistung erfordern eine umfangreiche Diagnostik. Im Rahmen des Vortrages werden emissions- und absorptionspektroskopische Messungen an Xe-Edelgas-Entladungen in zylindrischen Gefäßen vorgestellt. Die Bestimmung der absoluten VUV-Strahlungsleistung der beiden Xe-Resonanzlinien erfolgt durch Messung ihrer absoluten Strahldichten bzw. der absoluten radialen Atomdichteprofile der Resonanzniveaus. Untersuchungen im Afterglow von gepulsten Entladungen liefern Daten zur effektiven Strahlungslebensdauer der Resonanzphotonen. Für die Messung der absoluten Atomdichten angeregter Xe-Zustände kommen als Hintergrundstrahler durchstimmbare, gitterstabilisierte Halbleiter-Laserdioden mit einer Emission im NIR zum Einsatz, die eine Bewertung der vier Xe-1si-Niveaus mit i = 2, …, 5 gestatten. Aus den gemessenen spektralen Absorptionsprofilen werden über die Dopplerverbreiterung der Hyperfeinkomponenten Aussagen zur Gastemperatur getroffen. Die Bestimmung der elektrischen Leistung erfolgt aus Messungen der axialen elektrischen Feldstärke und des Entladungsstroms. Die vorgestellten Methoden werden anhand umfangreicher Ergebnisse diskutiert.
Gefördert durch das BMBF (FKZ: 13N8153)