Mainz 2004 – wissenschaftliches Programm

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T: Teilchenphysik

T 101: Halbleiterdetektoren I

T 101.1: Vortrag

Montag, 29. März 2004, 15:50–16:05, RW 3

Ein USB-basiertes Testsystem für die Auslese-Chips des Pixeldetektors im ATLAS-Experiment — •Jens Weingarten, Fabian Hügging, Jörn Grosse-Knetter, Hans Krüger, Tobias Stockmanns, Lasse Klingbeil, Andreas Eyring, Siegfried Gross, Ivan Peric und Norbert Wermes — Physikalisches Institut, Universität Bonn, Nussallee 12

Für die innerste Lage des ATLAS-Experiments ist ein Silizium-Pixeldetektor geplant, dessen Signale vom sogenannten FE-Chip ausgelesen werden. Dieser wird mit dem Siliziumsensor über Bump-Bonding-Technologie verbunden.

Der FE-I-Chip besteht aus 2880 Pixeln sowie verschiedenen Einheiten zur Steuerung und digitalen Trefferverarbeitung. 16 solcher FE-I-Chips werden zu einem Modul zusammengebaut, welches dann die Grundeinheit des Pixeldetektors darstellt.

Um die FE-I Chips testen zu können wurde ein USB-basiertes Testsystem entwickelt, das durch seine geringe Größe und die geringen Fertigungskosten vielseitig verwendbar ist und für Systemtests auch in größerer Stückzahl zur Verfügung gestellt werden kann.

In diesem Vortrag wird das USB-basierte Testsystem vorgestellt und Ergebnisse der Charakterisierung von FE-I1- und FE-I2-Chips vorgestellt.