Mainz 2004 – wissenschaftliches Programm
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T: Teilchenphysik
T 203: Halbleiterdetektoren III
T 203.3: Vortrag
Dienstag, 30. März 2004, 14:30–14:45, HS I
Strahlungshärte von CMS-Siliziumstreifensensoren — •Alexander Furgeri, Wim de Boer, Frank Hartmann, Alexander Dierlamm, Thomas Müller und Stefanie Freudenstein — Institut für experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe
Die Siliziumstreifensensoren des CMS-Spurdetektors werden während einer Laufzeit von 10 Jahren am LHC einer Strahlenbelastung von 1,6· 1014neq(1MeV)/cm2ausgesetzt.
Um die Funktionsfähigkeit der Sensoren auch nach 10 Jahren am LHC zu gewährleisten, werden im Rahmen der Qualitätskontrolle einzelne Sensoren in Louvain-la-Neuve mit Neutronen einer Energie von 20MeV bestrahlt und ihre elektrischen Eigenschaften bestimmt.
In diesem Beitrag werden die Depletionsspannungen vor und nach Bestrahlung dargestellt und mit den aktuellen Parametern dieser Bestrahlung der Verlauf der Depletionsspannung whärend der Laufzeit von 10 Jahren im Spurdetektor berechnet.