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14:00 |
T 203.1 |
Strahlenhärte dünner epitaktischer Siliziumdetektoren — •Devis Contarato, E. Fretwurst, G. Kramberger, G. Lindström, I. Pintilie, R. Röder, A. Schramm und J. Stahl
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14:15 |
T 203.2 |
Bestrahlungsstudien an Silziumstreifendetektoren für das CMS-Experiment — •Th. Weiler, T. Barvich, P. Blüm, A. Dierlamm, G. Dirkes, M. Fahrer, A. Furgeri, S. Freudenstein, F. Hartmann, S. Heier, Th. Müller und H.J. Simonis
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14:30 |
T 203.3 |
Strahlungshärte von CMS-Siliziumstreifensensoren — •Alexander Furgeri, Wim de Boer, Frank Hartmann, Alexander Dierlamm, Thomas Müller und Stefanie Freudenstein
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14:45 |
T 203.4 |
Temperaturverhalten und Strahlenhärte von Monolithic Active Pixel Sensoren — •M. Deveaux, A. Besson, G. Claus, C. Colledani, G. Deptuch, W. Dulinski, A. Gay, G. Gaycken, Yu. Gornushkin, D. Grandjean, A. Himmi, Ch. Hu, I. Valin und M. Winter
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15:00 |
T 203.5 |
Untersuchung lokaler Streifenfehler bei Siliziumsensoren für das CMS Experiment — •S. Freudenstein, P. Blüm, A. Furgeri, F. Hartmann, J. Junge, C. Menge, Th. Müller, T. Punz und P. Steck
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15:15 |
T 203.6 |
Radiation-Hard ASICs for Optical Data Transmission in the Atlas Pixel Detector — •Michael Ziolkowski, Peter Buchholz, Martin Holder, and Simon Nderitu
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15:30 |
T 203.7 |
Pixeldetektoren in MCM–D Technologie — •Christian Grah, Karl-Heinz Becks, Tobias Flick, Peter Gerlach und Peter Mättig
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