Mainz 2004 – wissenschaftliches Programm

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T: Teilchenphysik

T 401: Halbleiterdetektoren V

T 401.7: Vortrag

Mittwoch, 31. März 2004, 15:40–15:55, RW 3

Diamantdetektoren als Beammonitore für TESLA — •Johannes Bol¹, Eleni Berdermann², Wim de Boer¹, Eugene Grigoriev¹, Florian Hauler¹ und Levin Jungermann¹ — ¹Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP), Universität Karlsruhe — ²Gesellschaft für Schwerionenforschung

Mit einem Streifendetektor aus Diamant, direkt im primären Strahl eines Teilchenbeschleunigers positioniert, kann man online ein Strahlprofil messen, ohne wie bei wirescannern über mehrere Teilchenpakete mitteln zu müssen. Dabei kann nicht nur ein vertikales, sondern auch ein longitudinales Strahlprofil entlang der Strahlrichtung gemessen werden. Eine solche Messung an einem Schwerionenstrahl mit Teilchenpaketen von 10⁹ Xe⁴⁷⁺-Ionen(∼27,5 GeV/Ion) und einer Bunch-Länge von 1 µs soll hier vorgestellt werden. Des weiteren soll erläutert werden, warum Diamant sich so außerordentlich gut für diese Anwendung eignet. Die Vorteile von Diamant liegen sowohl im Bereich der elektronischen und thermischen Eigenschaften, als auch in der extrem hohen Strahlenhärte, vergleichbar mit kryogenem Silizium bei T=130K.