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T: Teilchenphysik

T 501: Halbleiterdetektoren VI

T 501.8: Vortrag

Mittwoch, 31. März 2004, 18:00–18:15, RW 3

Erste Messungen mit dem Tracker Alignment System (TAS) des AMS-02 Si-Spurdetektor — •Wolfgang Wallraff¹, Axel Gross¹, Waclaw Karpinski¹, Philippe Azzarello², Eduardo Cortina-Gil² und Daniel Haas² — ¹RWTH-Aaachen, I. Physikalisches Institut IB, Sommerfeldstr.14, Turm 28, 52074 Aachen — ²Université de Genève Département de Physique Nucléaire et Corpusculaire (DPNC) 24, Quai Ernest Ansermet

AMS ist ein hochauflösendes Teilchenspektrometer (MDR 3TV) mit einem 0.4 m² sr 8-Ebenen Si-Spurdetektor (tracker). In einem Detektor Volumen von 1 m³ werden dabei Positionsmessgenauigkeiten von 8 Mikrometern realisiert. Diese Genauigkeit soll auch unter Raumflugbedingungen erhalten bleiben.

AMS kontrolliert die Lage der tracker-Ebenen an jeweils 10 Stellen dieser 8 Ebenen mit IR Laser Strahlen. Die Si Teilchensensoren mit gekreuzten Elektroden („doublesided“) dienen dabei auch als IR Positions Detektoren. Bei AMS-02 werden wie bei AMS-01 (STS-91 1998), der für das alignment erforderlichen IR Strahlqualität wegen, entspiegelte Sensoren verwendet.

In 2003 haben wir ein Testsegment des Trackers in Ionen Strahlen beim CERN und am GSI getestet. Derselbe Aufbau wurde zur Untersuchung von TAS Strahlprofilen benutzt. In 5 und mehr Lagen sind für ein alignment mit 5 Mikrometer Genauigkeit ausreichende 2 dimensionale IR Profile aufgezeichnet worden. Es konnte sichergestellt werden, dass IR Signale in 8 aufeinander folgenden AMS tracker Ebenen nachweisbar sind.