München 2004 – wissenschaftliches Programm

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A: Atomphysik

A 11: Photoionisation I

A 11.6: Vortrag

Dienstag, 23. März 2004, 17:45–18:00, HS 132

Messung der Elektronenaffinität von Schwefel mittels Photodetachment-Mikroskopie — •Sophie Kröger¹, Christophe Blondel², Walid Chaibi², Christian Delsart² und Cyril Drag² — ¹Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik, TU Berlin, Hardenbergstr. 36, 19623 Berlin — ²Laboratoire Aimé Cotton, Bât. 505, F-91405 Orsay, Frankreich

Durch Dissoziation von CS₂ in einer Gasentladung wird ein Strahl negativer Schwefel-Ionen erzeugt. Mit einem stabilisierten single-mode Farbstoff-Ringlaser wird das zusätzliche Elektron abgelöst. Der Nachweis der Elektronen erfolgt in einem sogenannten Photodetachment-Mikroskop [1]. Aus den Interferenzringen der im elektrischen Feld beschleunigten Elektronen wird die Elektronenaffinität bestimmt.
Übergänge vom Multiplett ²P_3/2, 1/2 des negativen Schwefel-Ions zum Grundmultiplett ³P_2, 1, 0 des neutralen Atoms wurden untersucht. Damit konnte neben der Elektronenaffinität auch der Wert für die Feinstrukturaufspaltung im negativen Ion ermittelt werden. Die Ergebnisse werden vorgestellt und eine Vergleich mit Werten aus [2] diskutiert.

[1] C. Blondel, C. Delsart, F. Dulieu, C. Valli, Euro. Phys. J. D, 5, 207 (1999).

[2] T. Andersen, H. K. Haugen, H. Hotop, J. Phys. Chem. Ref. Data, 28, 1511 (1999).